Microtrac纳米粒度及Zeta电位分析仪
纳米粒度测量——新动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小，例如分子级别的大小，颗粒对光的散射效率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（PCS）变得更加不确定。40多年来，Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。
初粘性测试仪，初粘性试验机，初粘性试验仪
初粘性测试仪，初粘性试验机，初粘性试验仪，初粘性测试机，胶带初粘性测试仪，初粘性测试仪，初粘测试，粘性测试仪器，粘性测试机，粘性测试仪。
台式干燥箱
技术指标： WG2003 WG2003C WG2003S WG2003SBC 产品配置 普通型 带观察窗 数字显示 带数字显示，观察窗，不锈钢内胆 工作室容积（l ） 30 工作室尺寸（cm）
高低温交变湿热试验室
高低温交变湿热试验室 技术指标： 工作室容积(立方米) 110 工作室尺寸( mm ) 10000×5000×2200 外型尺寸 ( mm ) 10300×6200×3200 安装功率 ( kw ) 30
超低温试验箱/超低温试验机
特点 ◆进口电脑控温仪表、技术指标稳定，操作、维修方便。 ◆进口全封闭压缩机组，关键配件采用国际名牌，提高运行可靠性。 ◆造型美观大方。 ◆中空电热
温度/湿度/振动三综合试验箱-------温度/湿度/振动三综合试验机
用 途 与恰当的振动试验台相配合，满足各种相应的温度、湿度、振动三综合试验要求。该 产品在航空、航天、船舶、兵器、电工、电子、通讯等领域有广泛的用途。
四点弯-半导体薄膜结合力检测系统
四点弯-半导体薄膜结合力检测系统V8.2是独创的四点弯测试系统，来自于史坦福大学，半导体专业生产线应用，经历超过8年的开发和优化来提高测试能力、稳定性和产量。系统和软件的控制通过大量的修正来提高测试能力、控制和数据分析。可以满足微电子设备、工具和材料公司的
KSV NIMA Langmuir膜分析仪(配置显微镜窗口）
KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。Langmuir膜分析仪(配置显微镜窗口)为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备，适用于制备、改性和研究Langmuir膜。
